DFT专家分析scan insertion时使用EDT的策略

在数字电路测试中，可测性设计（Design for Testability, DFT）是一种用于提高电路可测试性的设计方法，使测试人员能够更有效地检测和定位电路中的故障。其中，扫描测试（Scan Testing）是DFT中最常用的技术之一，它通过将电路中的触发器（flip-flop）连接成一个或多个扫描链（Scan Chain），使得测试时可以像移位寄存器一样串行地加载测试向量并读取响应[^1]。 在扫描测试中，电路中的触发器被替换为具有额外扫描输入的扫描触发器（Scan Flip-Flop），这些触发器在正常操作模式下像普通触发器一样工作，而在测试模式下则可以通过扫描链串行地加载测试数据。这种机制显著提高了测试覆盖率，因为测试人员可以直接控制电路中的内部状态，并观察其输出[^2]。 扫描测试的基本流程包括以下几个步骤： 1. **初始化阶段**：将所有扫描链清空，确保电路处于已知状态。 2. **加载阶段**：通过扫描链串行加载测试向量到各个触发器中。 3. **捕获阶段**：在正常操作模式下运行电路一个或多个时钟周期，让电路响应测试向量并捕获输出结果到触发器中。 4. **卸载阶段**：将捕获到的结果通过扫描链串行移出，与预期结果进行比较，以判断是否存在故障[^3]。 为了实现扫描测试，通常需要在电路设计阶段加入扫描插入（Scan Insertion）步骤，这通常由电子设计自动化（EDA）工具自动完成。扫描插入包括定义扫描链、插入扫描触发器、以及连接扫描路径等任务。以下是一个简化的扫描链插入示例代码（使用Verilog HDL）： ```verilog module scan_flip_flop ( input clk, input scan_mode, input din, input scan_in, output reg q ); always @(posedge clk or posedge scan_mode) begin if (scan_mode) q <= scan_in; else q <= din; end endmodule ``` 上述代码展示了一个基本的扫描触发器模块，其中`scan_mode`信号用于切换正常操作模式和扫描模式。 扫描测试的一个关键优势是可以显著减少测试时间，并提高故障检测的效率。然而，它也带来了一些额外的设计复杂性和面积开销，因为每个触发器都需要额外的扫描逻辑。此外，扫描测试的有效性还依赖于测试向量的质量和测试模式的生成方法[^4]。