stm32f103vct6 adc/dac外接Vref+

在stm32f103vct6微控制器中使用ADC时，若需要外接外部参考电压（VREF），以下是关键步骤和注意事项：

电源与地

VDD/VSS：数字电源（3.3V）及地，多组分布（如 VDD 1-5，VSS 1-5）。
VBAT：电池供电引脚（RTC/备份寄存器电源）。
VREF+/VREF-：ADC/DAC 参考电压输入（若使用需外部滤波）。

1. 硬件连接

• 确定VREF引脚：

  • 部分STM32型号（如F1系列）有独立的 VREF+ 和 VREF- 引脚（可能标记为 VREF+、VREF- 或 VREF）。
  • 部分高端型号（如F4/H7）可能通过内部VREFBUF或专用引脚配置外部参考源。

• 连接外部VREF源：

  • 将外部参考电压源（如REF3133、TL431等）的正极接到STM32的VREF+引脚。
  • 若使用差分参考，VREF-需接地或负电压（多数情况直接接地）。
  • 电压范围：确保外部VREF在数据手册允许范围内（通常0~3.3V，具体以型号为准）。

• 滤波与稳定性：

  • 在VREF+引脚附近并联100nF陶瓷电容 + 10μF电解电容，降低噪声。
  • 使用低噪声、高精度的LDO或基准电压芯片（如ADR4525）。

2. 软件配置

• CubeMX设置：
  1. 在ADC配置中，选择 External Reference Voltage 作为参考源（选项可能为VREF+或EXTERNAL）。
  2. 确保ADC通道配置正确（避免误用内部VREF通道）。
• 寄存器配置（无CubeMX时）：
  • 启用外部VREF的使能位（如ADC_CCR.VREFEN在部分型号中）。
  • 配置ADC的参考源选择寄存器（如F4系列需操作ADC_CCR.VBATEN或VREFEN）。

3. 校准与验证

• 执行ADC校准：
  • 上电后调用HAL_ADCEx_Calibration_Start()（HAL库）或执行校准序列（寄存器操作）。
• 测试验证：
  • 测量已知电压（如3.3V电源），通过公式计算实际值：
    *`ADC结果 = (输入电压 / VREF) 分辨率`**
  • 若结果偏差大，检查VREF稳定性或PCB布局干扰。

4. 注意事项

• 型号差异：
  • F1系列：通常需外接VREF，且VREF+必须≤VDDA。
  • F4/H7系列：可能支持内部VREFBUF（需通过VREF+引脚外接滤波电容启用）。
• PCB设计：
  • VREF走线尽量短，远离高频信号。
  • 多层板中可将VREF引脚下方铺地，减少串扰。
• 电源质量：
  • 外部VREF的负载调整率需满足ADC精度要求（如12位ADC需误差<0.1%）。

示例电路（F1系列）：

外部基准芯片（如REF3030）  
│  
├──3.0V→STM32_VREF+  
├──GND→STM32_VREF-  
└──并联100nF+10μF电容到地

建议参考具体型号的数据手册（Datasheet）和参考手册（Reference Manual），搜索关键词VREF或ADC reference获取详细电气参数。

参考电路如下：