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本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片中SMU AliveMonitor（Checker Software）的开发要点。SMU模块分为SMU_Core和SMU_Stdby两部分，分别管理不同失效检测。为确保SMU链路可靠性，SMU_Core AliveMonitor通过硬件安全机制SM[HW]和软件测试机制ESM[SW]进行监控。硬件机制在SMU_Core失效时触发ALM21[16]报警，软件测试接口Smu_CoreAliveTest()可在上电时进行自检。开发时需确保SMU_Stdby使能且SMU_cor

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片功能安全开发中的Checker Software（CHSW）相关内容。CHSW用于校验Startup Software（SSW）的配置正确性，在跳转至用户程序前完成自动检测。文章首先分析了Cold-Poweron、Warm-Poweron、System和Application四种复位类型的定义及影响范围；然后阐述了CHSW的作用、执行前提条件及不同复位类型下检测内容的差异；最后说明通过STMEMx寄存器获取检测状态的方法。文中还包含芯片电源管理、复位源选择等技术细节，并

本文是一系列关于汽车电子控制器功能安全开发的实战指南。文章以实战为主，针对英飞凌Tricore和瑞萨RH850等主流MCU，详细讲解功能安全组件开发，包括RAM/Flash自检、ECC检测、锁步核检测等模块的实现。目前已发布15篇技术文章，涵盖FMEA分析、DFA分析、MPU开发、SMU详解、电源监控、ECC监控、LBIST开发等内容。该系列将持续更新，旨在帮助工程师掌握功能安全开发技能，成为优秀的功能安全软件工程师。

Flash test，功能安全模块，用于检测Flash是否由于硬件或其他原因损坏导致功能受影响，本文详细从What（是什么）及How（如何开发使用）两个方面进行介绍。

系统介绍功能安全相关RamTst内容及配置实现方案

功能安全软件FEMA分析与组件鉴定活动开展指导。

本文主要从以下三个话题出发，介绍为什么需要DFA？什么是DFA？如何做DFA？

以RH850为base，对功能安全中MPU相关概念及相关开发配置进行介绍。

对英飞凌Tricore系列芯片功能安全SMU进行系统介绍，后续继续介绍MONBIST，LBIST，MBIST，时钟监控，总线监控等

本文对电源监控(PBIST及MONBIST)开发介绍，步骤详细配合开发中的测试情况，图文并茂，方便理解。

对PFlash及DFlash ECC监控开发进行介绍，步骤详细配合开发中的测试源码及结果，方便理解

英飞凌Tricore/LBIST开发详解

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片功能安全中的SRI总线（System Resource Interconnect）开发。SRI总线用于MCU系统总线通信安全监测，包含64位数据总线，连接TriCore CPU、DMA模块等资源。文章详细解析了TC3xx芯片的总线架构、SRI主机与从机的连接机制、错误处理流程（包括协议、传输ID和EDC错误），以及故障注入测试方法。

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片中FPI总线的功能安全开发实践。FPI总线作为连接中低带宽外设的重要通道，其功能安全机制包括总线错误检测、EDC完整性保护及故障注入测试。重点阐述了总线错误处理流程，通过BCU寄存器捕获错误信息并上报SMU告警；详细说明了FPI总线的EDC保护机制和故障注入测试方法，包括MEDM/SEDM解码器测试步骤及调试结果验证。该方案为汽车电子系统提供了可靠的总线安全监测手段，配合专栏其他内容可构建完整的Autosar功能安全开发体系。

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片的锁步核(Lockstep Core)功能及其故障注入自检机制。锁步核通过主核和检查核同步执行指令，并比较输出结果来检测硬件故障。文章详细阐述了锁步核的工作原理、使能配置方法以及故障注入自检的实现过程。故障注入测试通过专用寄存器LCLTEST触发，系统会定期自动测试比较器节点，验证锁步核的故障检测能力。当检测到异常时，会触发SMU模块的警报机制。该技术为汽车电子系统提供了重要的功能安全保障。

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片的功能安全机制，重点讲解了Safety Flip-Flop寄存器及其自检方法。文章首先概述了Safety Flip-Flop的三模冗余设计原理，通过三份寄存器加多数表决电路确保系统可靠性。随后详细阐述了自检流程涉及的三个关键寄存器（RMCTL、RMEF、RMSTS）的功能及操作注意事项，包括写保护关闭和故障清除等关键操作。最后提醒开发者在自检过程中需注意的细节问题。该机制为汽车电子系统在强干扰环境下的安全运行提供了重要保障。

本文介绍了英飞凌Tricore系列芯片的MBIST（内存内建自测试）功能开发。MBIST通过硬件自检机制检测内存故障，满足ISO 26262功能安全要求。文章详细解析了MTU（Memory Test Unit）的工作原理，包括SSH（SRAM Support Hardware）的分组测试流程、关联Alarm机制及相关寄存器配置。重点阐述了MBIST的4N-NDT非破坏性测试方法和ECC校验机制（32+7/64+8组合），说明其如何实现1比特纠错和2比特检错。测试需在SRAM不可访问状态下进行，通过MTU触发

通过Davinci工具来对WdgM模块进行配置及手工代码插入指导。

针对几种WdgM监测机制如何进行测试呢？出现了WdgM校验失败导致的软件复位如何快速定位？本篇就跟大家分享下几种监测机制人为注入故障方法及出现问题如何定位。