本文介绍如何消除印刷电路板 (PCB) 和电缆上的测试连接器导致高频 S 参数数据不连续而产生的测量伪影。频域 S 参数被转换到时域以获得脉冲响应。然后，对该脉冲响应进行时域门控，以消除由端接连接器和/或其他不连续性引起的反射。之后，将门控脉冲响应转换回频域。最终结果是经过显著改进的 S 参数数据集，消除了不必要的谐振，从而可以确定 PCB 走线或电缆的损耗。
介绍
高速数据信号会显著受到印刷电路板 (PCB)、电缆导体和介电材料相关损耗的影响。使用矢量网络分析仪 (VNA) 直接测量这种损耗是一种常用方法，可以确定 PCB 走线和/或电缆是否会在所需的数据速率和路径长度下造成不可接受的损耗。然而，当电缆或走线未完美地端接在其特性阻抗中时，大多数 PCB 走线（当然也包括大多数电缆）的长度可能会导致 S 参数数据中出现反射和谐振效应。这些谐振与长度相关，因此 S 参数结果并不能准确地指示走线/电缆的真实效应，而是指示与特定长度的走线/电缆以及所使用的特定连接器相关的损耗。由于这些测量伪影，测量结果通常不适用于对 PCB 走线（不带连接器，但直接连接到 IC）进行更常规的分析，也不适用于使用不同连接器的电缆，或者走线/电缆的长度可能有所不同的情况。通常需要测量每单位长度（每英寸、米等）的走线/电缆损耗，以便可以根据原始测量数据创建任何所需长度的 S 参数。
消除连接器不良影响的一种方法是使用 TRL（直通、反射、线路）VNA 校准。这种 VNA 校准方法通过在 PCB 上直接进行校准，可以有效地消除这些终端效应。然而，为了在较宽的频率范围内进行校准，该技术需要在 PCB 上布置多条不同长度的走线。此外，连接器本身必须是高质量的连接器，以确保它们的高频特性相似，并且 PCB 上的介电材料必须在整个 PCB 上保持一致。这些要求并非总是能够满足，尤其是在使用低成本介电材料的 PCB 时，而且 TRL 校准不适用于电缆。
本文列举了一些示例，展示了时间门控对PCB走线和电缆的影响。结果一致性非常好，表明该程序有效地消除了不必要的反射/谐振，并能够精确确定走线和电缆的单位长度参数。
时间门控
时域门控只是将一个窗口形状[1]应用于时域数据，从而有效地加权时域数据并减少不良影响。有许多不同的窗口函数可供选择：矩形、Hann（Hann 窗通常被称为“Hanning”窗）、Hamming、Blackman、Kaiser 和余弦平方只是其中几种较常用的窗口函数。每个窗口函数都有其相应的形状，并且计算复杂度或高或低。通常，给定窗口函数越复杂（耗时），它在频域中减少旁瓣的效果就越好。图 1 展示了一些较常用窗口函数的示例。
图 1：Hann、Hamming 和余弦平方窗口函数的示例
通过对频域数据应用时域门控（加窗），可以消除端接器等的影响。原始频域数据（幅度和相位）经过逆傅里叶变换后，得到时域脉冲响应。然后，使用改进的 Hann 窗对时域脉冲响应进行门控（选择 Hann 窗是因为它简单且性能良好）。改进的 Hann 窗使用了图 1 中 Hann 窗的前半部分，但延迟到时域脉冲的起始位置。这样可以保留脉冲响应的高频部分，同时平滑测量伪影的后期效应。
可以调整门控窗口的总长度，以消除不必要的端连接器反射。门控脉冲响应完成后，数据将转换回频域。门控窗口的长度决定了门控频域数据中的最低有效频率，最后需要使用原始低频数据进行低频校正。这最后一步至关重要，否则低于最低有效频率的结果将不正确。由于端连接器的反射/谐振已被消除，因此生成的 S 参数数据可以直接缩放到所需长度。
图2显示了使用SOLT校准（非门控）进行PCB S21测量的示例。谐振会导致2 GHz以上频率的S21测量出现明显的峰谷。如果信号的基波或谐波频率落入峰谷，这些峰谷可能会导致错误的信号完整性仿真结果。
图2：S21测量的PCB示例
使用逆傅里叶变换将未门控的频域信号转换为时域信号。图3显示了图2中未门控信号的脉冲响应结果。
图 3：非门控时域脉冲响应
在图3中，主脉冲之后可以看到一些反射。然而，由于图3使用的是线性垂直刻度，这些反射看起来并不重要。由于图2中的刻度是对数刻度，并且目标频率范围的结果低至-60 dB，因此图3中的时域信号在图4中进行了扩展。从图4中可以清楚地看到明显的反射。
图 4：初始时域脉冲响应（扩展）
使用改进的 Hanning 窗时，时域脉冲没有明显的反射。窗的矩形前沿设置在脉冲响应上升沿之前。Hanning 窗的尾部设置为减少主脉冲之后的反射。图 5 显示了门控脉冲。
门控操作会去除低频信息。本例使用了 1 ns 的门控宽度；因此，门控宽度不足以包含 1 GHz 以下的正确频域数据。低频 S21 数据通常是准确的，因此需要通过将初始门控结果替换为原始低频结果（本例中为 1 GHz 以下）来校正门控脉冲。最终的门控校正脉冲如图 5 所示。
脉冲响应被转换回频域，最终的门控校正后的 S21 数据如图 2 所示。门控校正后的数据通过消除原始数据中的峰值和谷值，明显改善了 S21 曲线。
第二个示例使用了一根五米长电缆的测量S参数数据。图6显示了原始的S21幅值数据。与长度相关的谐振/反射的影响在1 GHz以下很明显，并且在约3 GHz以上占主导地位。
图 6：电缆示例中的原始 S21 数据
图7显示了时域原始数据、门控数据和校正门控数据。在本例中，主脉冲之前和之后都发生了明显的反射。早期反射是由于网络分析仪和差分电缆之间的连接不良造成的。由于电缆的结构，无法改善这种连接。这显示了时间门控技术的另一个重要用途。如果在模拟中包含这些“早期”数据，结果将与模拟结果无关且不正确。最终的门控校正脉冲比原始数据干净得多。所有早期反射噪声都被消除，几乎所有后期反射噪声也被消除。
图 7：时域电缆结果
最终的频域结果如图8所示。由于门控宽度为3 ns，因此使用333 MHz以下的原始频域数据来校正低频门控数据。如果将图6和图8进行比较，可以清楚地看出，通过消除不必要的谐振效应，原始数据得到了显著改善。
图 8：电缆示例的最终频域 S21
测量中的相位误差
在使用 VNA 进行测量的过程中，我们碰巧用高频 VNA（上限频率为 20 GHz）和低频 VNA（上限频率为 8 GHz）测量了同一条电缆。比较时域脉冲响应时，发现两种不同 VNA 测量的延迟存在显著差异（图 9）。TDR 测得的延迟为 42.8 ns，与低频 VNA 一致。然而，高频 VNA 报告的同一条电缆的延迟要短得多。
图 9：两台不同 VNA 的测试电缆时域延迟
我们发现高频矢量网络分析仪 (VNA) 的步长设置为 50 MHz。图 10 显示了门控前的原始相位数据。各个数据点显示，较大的频率步长会遗漏该电缆的大部分相位绕回。这导致同一电缆的相位延迟不正确且低得多（因此时域延迟也较小）。一旦高频矢量网络分析仪 (VNA) 的频率步长足够小以捕获正确的相位，则两个矢量网络分析仪的电缆延迟相同。
图 10：由于频率步长较大，高频 VNA 丢失了相位信息
图 11 显示了进行门控和低频校正后的最终 S21 幅度。还显示了未经低频校正的门控数据。
图 11：10 米测试电缆的最终 S 参数数据
概括
虽然良好的测量技术和精确的校准至关重要，但不完善的信号发射（由于连接器质量差和/或长度谐振）产生的反射效应有时会破坏所需数据。在高频下尤其如此，因为此时被测器件的电气长度会变长。
即使经过仔细的校准，SOLT 和 TRL 网络分析仪校准技术的局限性也常常会导致 S 参数数据可能给信号完整性模拟带来不准确的结果。
将频域 S21 数据转换到时域，并对 PCB 和电缆数据分别应用改进的 Hann 窗。加窗完成后，数据又转换回频域。
利用原始低频S21数据对最终的S21数据进行了低频校正。
最终的 S21 频域数据比原始数据明显改善。使用此选通程序消除了端连接器效应，甚至消除了网络分析仪之间的连接不良。此外，必须注意频率步长足够小，以免长电缆丢失相位信息。对于 PCB 上的走线来说，这通常不是问题，因为这些走线通常很短。无论测量路径如何，都必须考虑并消除测量中可能出现的相位误差问题。
虽然并非所有网络分析仪测量都需要使用门控进行校正，但此过程可以将简单 SOLT 校准的有用频率范围扩展到比其他方式有用的更高频率。
参考
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