STM32 H743上电复位的IO变化

最新推荐文章于 2025-01-17 21:04:51 发布

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文章标签： stm32 arm 嵌入式硬件

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本文链接：https://blog.csdn.net/qq_23313467/article/details/123522256

本文详细介绍了在STM32H743微控制器上电过程中，IO口电平变化的测试过程。通过使用2M逻辑分析仪，观察到IO口在上电后有约100ms的高电平，然后在软件初始化期间保持低电平状态约2秒。了解这一行为有助于避免上电时控制信号的混乱。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

目的：检查STM32H743上电的过程中，IO的变化。

理解这个过程后，可以在设计过程中避免上电导致控制信号的错乱。

测试方法：使用2M的逻辑分析仪，测量IO的电平变化情况。测试结果如下：

注意事项：

1. 上电后，有100ms左右的高电平；

2.上电到软件初始化完毕，有2秒左右的时间的低电平。

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