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测试环境：编译器:KEIL 5.28芯片：GD32F103 E103 F303仿真器：JLINK V91、使用SWO模式需要多占用一个IO-PB32、勾选MicroLIB3、重构printf函数4、工程配置5、输出结果

一、Hard fault产生原因硬件方面常见原因：1.电源设计有错误，造成器件供电不稳；2. 电源质量不好，文波，噪声过大；3. 器件接地不良；4. 对于带有Vcap引脚的器件，管脚处理不当；5. 电路中有强干扰源，对器件造成干扰；软件方面常见原因：6.使用了空指针；7.对地址偏移量的计算有误；8. 数组越界导致程序出错；9. 动态内存使用不当，导致访问了已释放的内存地址；10. 通过地址访问了已失效的局部变量；一般因为硬件造成Hard Fault错误的可能性较低，90%都是软件原

一、简介J-Scope是SEGGER公司推出的，可以在目标MCU运行时，实时分析数据并图形化显示的软件。它不需要SWO或目标上的任何额外引脚等功能，但使用可用的标准调试端口。J-Scope可以以类似示波器的方式显示多个变量的值。它读取elf或axf文件并允许选择多个变量进行可视化。只需将目标微控制器连接到J-Link并启动J-Scope。只需几个步骤即可配置J-Scope，并选择要显示的符号。配置可以存储在项目文件中，以便于重复使用和移植。在J-Scope中选择的每个符号都可以单独配置。上下移动图形以更改

一、简述当仅仅拥有一个固件，比如HEX或BIN文件，如果将它烧录到CPU呢?这里使用J-Link flash解决这个问题，而且可以用于小批量的生产中。二、测试环境OS：WIN7JLINK固件版本：v9.70SEGGER版本：V6.40开发板：GD32F303C-EVEL三、操作步骤1>在开始—>SEGGER—>JFlash打开，创建一个工程，方便以后使用，如下图：然后弹出如下对话框，先使用默认的这些选项，点击OK2>Options—>Project se

一、测试环境1> 测试环境系统：WIN7MDK：keil v5.26开发板：GD32F303C-EVAL固件库：V1.0.2FreeRTOS版本：V10.4.0支持内核： ARM Cortex-M0/M0+/M1/M3/M4/M7/M23/M33 and Renesas RX100/200/600更多详情可以参考官网：RTT中文可以参考：仿真器代替串口打印2> 找到JLINK驱动的安装目录。解压后可以看到如下图所示文件，Example目录是参考的demo,RTT和Sy

应用于IAP升级，将bootloader与app合并成一个文件，方便烧录。合并hex文件操作一样，只是不用在输入起始和偏移地址。1、打开J-Flash V6.40如下图：没有安装JLINK驱动的客户，自行百度JLINK V640下载安装，版本理论上没有要求，新的最好。2、创建工程，可以选择不创建型号可以选择一个flash大小一样的即可3、打开文件bootloader文件，地址0x08000000选择对应的文件设置其实地址0x080000004、打开APP程序，File—>

JFlash解除GD32读保护如果用户添加了读保护或者误操作等导致的下载不了，可以先进行解锁尝试，步骤如下：1、打开J-Flash V6.40如下图：没有安装JLINK驱动的客户，自行百度JLINK V640下载安装，版本理论上没有要求，新的最好。2、打开界面如下，操作如下：3、选择芯片：这里选择ST的型号，为啥选ST的，一方面因为GD的型号不全，另一方面选择GD的型号可能解锁指令不能用，后面新的J-Flash版本应该会逐步完善GD。下面给出一些对应的参考型号，不唯一，大体原则就是FLASH大