JTAG接口

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#硬件工程

于 2024-08-07 22:52:38 首次发布

一、介绍

JTAG (Joint Test Action Group) 是一种国际标准接口协议，遵循 IEEE 1149.1 标准，最初是为了测试印刷电路板 (PCB) 上的集成电路 (IC) 而设计的。随着时间的推移，JTAG 接口也被广泛用于调试、编程和故障诊断等领域。

JTAG的三大功能：
1.下载器，即下载软件到FLASH里。
2. DEBUG，跟医生的听诊器似的，可探听芯片内部小心思。
3. 边界扫描，可以访问芯片内部的信号逻辑状态，还有芯片引脚的状态等等。

TCK	Test ClocK	提供测试时钟信号
TMS	Test Mode Select	选择测试模式
TDI	Test Data Input	向边界扫描寄存器输入数据
TDO	Test Data Output	从边界扫描寄存器输出数据
TRST	Test Reset	可选引脚，用于复位 JTAG 测试电路。

二、JTAG接口指令集

JTAG接口指令集包含以下常用指令：

（1）EXTEST指令

外部测试指令，必须全为0，TAP强制定义。该指令初始化外部电路测试，主要用于板级互连以及片外电路测试。

EXTEST指令在Shift-DR状态时将扫描寄存器BSR寄存器连接到TDI与TDO之间。在Capture-DR状态时，EXTEST指令将输入管脚的状态在TCK的上升沿装入BSR中。EXTEST指令从不使用移入BSR中的输入锁存器中的数据，而是直接从管脚上捕获数据。在Update- DR状态时，EXTEST指令将锁存在并行输出寄存器单元中的数据在TCK的下降沿驱动到对应的输出管脚上去。

（2）SAMPLE/PRELOAD指令

采样/预装载指令，TAP强制定义。在Capture-DR状态下，SAMPLE/PRELOAD指令提供一个从管脚到片上系统逻辑的数据流快照，快照在TCK的上升沿提取。在Update-DR状态时，SAMPLE/PRELOAD指令将BSR寄存器单元中的数据锁存到并行输出寄存器单元中，然后由EXTEST指令将锁存在并行输出寄存器单元中的数据在TCK的下降沿驱动到对应的输出管脚上去。

（3）BYPASS指令

旁路指令，必须全为1，TAP强制定义。BYPASS指令通过在TDI和TDO之间放置一个1位的旁通寄存器，这样移位操作时只经过1位的旁通寄存器而不是很多位（与管脚数量相当）的边界扫描寄存器BSR，从而使得对连接在同一JTAG链上主CPU之外的其他芯片进行测试时提高效率。

（4）IDCODE指令

读取CPU ID号指令，TAP强制定义。该指令将处理器的ID号寄存器连接到TDI和TDO之间。