1、JTAG 基本原理
JTAG是Joint Test Action Group的缩写,它是一种国际标准测试协议,主要用于芯片或印制电路板的边界扫描和编程。
JTAG接口是一种用于连接和调试嵌入式系统的标准接口。
1.1、JTAG接口包括以下几个信号:
- TMS(Test Mode Select):用于设置测试模式和测试状态机的状态。通过 TMS 信号,可以控制 TAP 在不同的状态间相互转换。TMS 信号在 TCK 的上升沿有效。
- TCK(Test Clock):用于提供时钟信号,控制测试状态机的运行。
- TDO(Test Data Out):用于从测试状态机中输出数据。
- TDI(Test Data Input):用于向测试状态机输入数据。
- TRST(Test Reset Input): RST可以用来对TAP Controller进行复位(初始化)。不过这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的,并不是强制要求的。 因为通过 TMS 也可以对 TAP Controller 进行复位(初始化)。
参考:debug_interface_v5_2_architecture_specification.pdf
1.2、The Debug TAP State Machine (DBGTAPSM)
TAP(TEST ACCESS PORT) 是一个通用端口,通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR:Data Register)和