CodingCos的博客

特性IDDQ 测试Burn-in 测试目标检测制造工艺缺陷（桥接、断开等）。筛选潜在早期失效芯片，验证可靠性。应用阶段通常在芯片生产的功能测试环节应用。通常在生产完成后或出货前进行。应力条件静态、低功耗电流检测。高温、高电压加速测试。测试成本较低，需精密电流测量仪器。较高，高应力设备及较长时间成本。效果补充功能测试覆盖，发现特定缺陷。增强产品可靠性，减少现场失效率。两者的结合在芯片测试流程中至关重要，可以有效提高产品的质量和市场竞争力。

在。

SDFFs是DFT中用于构建扫描链的基本单元，支持功能模式和测试模式的切换，显著提高芯片的可测试性。EDT是一种高效的测试压缩技术，通过减少测试数据量和测试时间，适应大规模芯片的测试需求。两者的结合为SoC设计提供了高效、可靠的测试解决方案，是现代芯片设计中不可或缺的技术123。

在 SoC (系统级芯片) 的设计与测试中，DFT（Design for Testability, 可测试性设计）是一项重要技术，用于确保芯片能够高效、准确地进行制造测试。本文将会介绍 soc 芯片中 如何通过DFT 来接管 芯片上的 clock 和 reset 模块，以及什么场景下需要 DFT来接管它们。通过上述方法，DFT 可有效接管并控制 SoC 芯片上的时钟和复位逻辑，满足不同测试场景需求。对时钟路径添加门控逻辑，允许在测试时钟下更精确控制时钟信号的启停。确保特定的复位信号条件下测试所有逻辑单元。

本文将介绍 soc 设计中 RTL-to-Netlist 映射及 RTL 中的信号名和 Netlist 中的信号名差异，在 SoC设计中，是从RTL（Register Transfer Level）代码转换为Netlist的过程。这通常涉及将用硬件描述语言（如Verilog或VHDL）编写的高层次设计转化为门级网络表，后者由逻辑门及其互连构成。以下详细说明这一过程及其常见的信号命名差异。

是指在目标芯片的设计运行频率下测试其功能或性能，主要用于检测芯片的动态故障，例如跨时钟域的传输问题、信号时序问题以及延迟相关缺陷。Launch 和 Capture Clocks 专注于动态路径测试，而 Shift Clock 主要用在扫描过程中加载或移出数据。（Shift Clock）：用于扫描测试数据（Scan In/Out），确保在加载和观察期间没有时序问题。否则标记为时序失效。发现可能存在的动态故障，如制造过程中的速度路径失效或信号冲突。触发信号的变化，启动时序路径中的信号传播。

在综合后插入 DFT 逻辑能够更高效地管理设计流程，优化功能设计与测试需求之间的权衡，同时借助自动化工具提升设计效率和测试质量。这一方法已成为工业界主流做法。

扫描连插入过程就是将普通寄存器（Flip-Flop）替换成为扫描寄存器（Scan Flip-Flop）的过程。如下图1-1 所示：图 1-1 寄存器替换图中，寄存器的pin信号SE（Scan Enable）为扫描测试的使能信号，用于正常逻辑通路和scan通路的切换；pin 信号SI为扫scan test 时测试数据的传输线路。工作如下普通工作模式：默认SE状态为0，此时寄存器为正常工作逻辑状态，数据通路（Data Path）从D端到Q端（Qn端）输出。Scan工作模式：使能SE=1,此时寄存器工作在。

SOC（系统级芯片）设计中，DFT 是确保设计的可测试性以提高芯片生产可行性和良品率的关键部分。DFT 技术能够在设计阶段插入测试结构，使生产后的芯片可以方便地被测试，以检测潜在的制造缺陷和功能性错误。常见的 DFT 技术包括扫描链插入、内建自测试（BIST）、边界扫描（Boundary Scan）等。STD Logic 在 DFT 中的作用在 DFT 的设计中，STD Logic主要是指标准逻辑模块，它用于实现和支持测试结构，通常通过额外的硬件模块增强可测试性。

扫描链是一种 DFT 机制，它将设计中的触发器 (Flip-Flops, FFs) 连接为一条或多条链，用于在测试模式下加载和观察数据，从而方便地测试内部逻辑的功能。正常模式下，触发器作为功能单元运行；在测试模式下，切换为“串行输入/输出”链操作，便于将测试数据写入/读出。Embedded Deterministic Test（嵌入式确定性测试）是一种用于减少测试向量数量和降低数据存储需求的技术。EDT 通过硬件逻辑在芯片内部对测试向量进行压缩和解压缩。

在 SoC 设计中，Scan Chain 和 EDT 是密切相关且相辅相成的技术。Scan Chain 提供基础的可测试路径，而 EDT 则通过压缩与优化技术进一步提升测试效率、降低成本。结合使用的典型例子体现了现代测试技术如何应对复杂 SoC 的测试需求，使得芯片验证更快速、更可靠、更具成本效益。

OCC），片上时钟管理器，用于测试模式下管理clock的切换和pulse的产生。如下图1所示，当OCC主要有三种信号输入：快时钟，慢时钟以及控制信号，当控制使能信号（以Test Mode为例）Test Mode为1时，OCC开始工作，实现快慢时钟的切换。OCC通常具有三个功能：clock selection，clock chopping control，clock gate。

在现代半导体设计中，DFT（Design for Test）技术的重要性不言而喻。它确保了芯片在制造完成后能够进行高效和可靠的测试。DFT设计规则检查（DRC）作为DFT流程中的一个关键环节，通过一系列自动化工具检测设计中的潜在问题，从而保证设计的可测试性和整体质量。在本文中，我们将详细探讨DFT DRC的概念、重要性、检查流程以及具体的规则和应用。Tessent是业界领先的DFT解决方案之一，其DRC工具通过一系列自动化检查，确保设计符合DFT要求。