ATE Socket学习总结-20250525

一、基本概念

Socket，用于FT、SLT、EVB、HTOL等测试，是连接被测器件（DUT）和测试设备的关键接口装置，可根据芯片POD（包括：封装类型、芯片引脚数、芯片外形尺寸、芯片管脚间距（Pitch）进行定制；

二、结构组成

ATE测试座通常由插座主体、探针、弹簧、定位装置等部分组成。插座主体一般采用高质量的绝缘材料制成，以确保不同引脚之间不会发生短路。探针是测试座的核心部件之一，它与被测器件的引脚直接接触，其材质和设计对于信号传输的质量至关重要。弹簧则为探针提供了合适的压力，保证探针与引脚之间的良好接触，同时也能适应一定程度的引脚高度差异。定位装置可以准确地固定被测器件，使其在测试过程中不会发生位移，确保测试的准确性。

三、工作原理

当被测器件放置在ATE测试座上并被正确定位后，测试座的探针与被测器件的引脚紧密接触。测试系统通过测试座向被测器件发送各种测试信号，如电压信号、电流信号、时钟信号等。这些信号沿着探针传输到被测器件中，驱动被测器件进行相应的操作。被测器件在接收到信号后，会产生相应的输出，这些输出信号又通过探针传输回测试系统。测试系统根据接收到的输出信号与预期的结果进行对比分析，从而判断被测器件是否符合设计要求，是否存在功能缺陷或性能问题。

四、分类

1、Signal-site socket

• 单site socket适用于ATE FT、HTOL、SLT以及UT测试场景，每次只能测试一个芯片；它会让芯片的更换测试更为方便，不用一直焊接和取下芯片，这样的话，就不会损伤芯片和PCB，从而达到快速高效的测试。如下图，socket会标注A1点，用来定位芯片方向；