halcon应用范围-表面检测4一利用带通滤波器来检测缺陷

该博客介绍了一种利用带通滤波器在频域中增强图像,从而检测表面缺陷的方法。通过反转图像、优化傅里叶变换速度、生成带通滤波器、进行傅里叶变换及逆变换,然后结合形态学操作,最终能够有效地检测和分离出表面的划痕。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

find_scraytche_bandpass_fft_hdev
*此程序显示如何检测
*通过过滤的不均匀发光表面频域。
*首先,创建合适的带通滤波器。然后,
*输入图像经过傅立叶变换,并在频域,使高频信息增强。最后,它被转换回
*对空间域和增强缺陷进行后处理。根据形态学。

dev_update_off()
dev_close_window()
read_image (Image, 'surface_scratch')
 
*反转图像灰度
invert_image (Image, ImageInverted)
 
get_image_size (Image, Width, Height)
dev_open_window (0, 0, Width, Height, 'black', WindowHandle)
set_display_font (WindowHandle, 16, 'mono', 'true', 'false')
dev_display (Image)

* 优化快速傅里叶转换的速度
Message := 'Optimize the speed of the fast fourier t

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