《Test pattern generation using Boolean proof engines》

该书籍结构如下：

第2章——预备知识。介绍了描述电路的基本符号、故障模型，回顾了传统的ATPG算法，简要介绍了本书中考虑的工业基准电路。
•第3章——布尔可满足性考虑SAT问题。在定义了问题之后，讨论了当今最先进的SAT解算器中的技术。最后，给出了门级电路到SAT约束的转换，并讨论了潜在的陷阱。
•第4章–基于SAT的ATPG。解释了ATPG到SAT的基本转换，并介绍了将结构信息嵌入SAT实例方面的优化。
•第5章——学习技巧将SAT解决方案中基于冲突的学习提升到ATPG工具的水平。讨论了从后续类似SAT实例中进行应用级学习的技术，并将其应用于ATPG。
•第6章——多值逻辑解释了如何在ATPG工具中处理工业环境中的现实世界约束。环境约束和三态元素需要在布尔SAT实例中编码多值逻辑。详细评估了不同编码之间的权衡。
•第7章——改进的电路到CNF转换展示了减少电路衍生SAT实例大小的有效方法。在工业环境中，只有少数元素需要四值模型，而大多数元素只有布尔值。此外，大多数故障可以在多个输出上观察到，但一个观察点就足够了。在CNF生成过程中利用这些特性可以显著缩小CNF大小，并缩短运行时间。
•第8章——分支策略为SAT求解器提出了针对ATPG的问题特定决策启发法。在小运行时间和少量未分类故障之间实现了良好的折衷。

•第9章——工业流程整合讨论了PASSAT在工业ATPG框架中的嵌入。完全替换高度调谐的发动机和用于故障模拟、测试压缩等的伴随算法是不可行的。相反，本文介绍了一种在框架内使用PASSAT的好方法。
•第10章——延迟故障扩展了基于SAT的方法。该模型必须反映（至少）两个时间范围内电路的行为。此外，还需要一种防止危险或竞赛条件的机制；否则，如果观测发生在错误的时刻，可能会错过故障效应。提出了多值逻辑来模拟所需的行为。进一步展示了为这些逻辑识别有效布尔编码的过程。
•第11章——总结和展望概述了本书中提出的技术，并提出了未发现的问题和基于SAT的ATPG进一步研究的方向