weixin_42322256的博客

对电路进行测试,首先要解决的就是测试生成的问题。测试生成就是针对于特定电路的给定故障, 生成相应测试向量的过程,该测试向量使得故障电路和正确电路的输出不同,该过程解决两个主要问题：........................

Building：Build withcmake:mkdir _build && cd _buildcmake --build .先执行：mkdir _build && cd _buildcmake --build 按照提示：Usage: cmake --build <dir>；执行下列命令：发现文件无法下载，于是在windows下把文件下载后，放到linux的_build 文件夹下，再执行下列操作；（绿色标记的文件即...

在生产一个芯片之后，必须检查该芯片的功能正确性与布尔门级规格。如果没有这样的检查，一个错误的芯片将被交付给客户，这可能导致最终产品的故障，这是不能接受的。另一方面，由于材料缺陷、生产过程中的工艺变化等原因，也可能产生大量的故障。直接检查所有可能的物理缺陷是不可行的。因此，应用了故障模型的抽象。...

summarySAT求解器从冲突子句中使用learned information获益匪浅。大多数learned information都是特定于电路的，也可以用于其他故障。提出了重用动态学习信息的策略。这些策略提高了性能，减少了SAT-based ATPG无法分类的故障数量。在工业电路中，ATPG算法必须处理电路环境以及三态元件施加的限制。详细解释了如何使用四值逻辑和布尔编码在基于SAT的方法中处理这些附加约束。进一步研究了几种布尔编码的有效性。SAT实例越大，SAT解...

该书籍结构如下：第2章——预备知识。介绍了描述电路的基本符号、故障模型，回顾了传统的ATPG算法，简要介绍了本书中考虑的工业基准电路。•第3章——布尔可满足性考虑SAT问题。在定义了问题之后，讨论了当今最先进的SAT解算器中的技术。最后，给出了门级电路到SAT约束的转换，并讨论了潜在的陷阱。•第4章–基于SAT的ATPG。解释了ATPG到SAT的基本转换，并介绍了将结构信息嵌入SAT实例方面的优化。•第5章——学习技巧将SAT解决方案中基于冲突的学习提升到ATPG工具的水平。讨论了从后续类似SAT实例