MemoryBist 测试中Memory分组控制方法总结

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已于 2024-05-05 21:09:58 修改 · 1.8k 阅读

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#java #硬件工程 #硬件架构 #单片机 #嵌入式硬件

于 2024-05-05 20:59:48 首次发布

本文介绍了MemoryBist测试中的Memory分组控制方法，包括基于物理位置、电压域、Memory类型、时钟域和测试时间等因素的考虑。文中详细阐述了四种分组策略：设置physical cluster size ratio、physical cluster override、partitioning group以及修改Initial Specification。这些方法有助于优化测试效率和功耗控制。

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摘录于微信公众号数字IC设计数字IC设计学习笔记，只是为了便于自己理解记忆和方便查阅，并无其他目的。

背景引言

MemoryBist的主要测试原理：Test controller是MemoryBist的控制器，在接到测试指令后，产生相应的测试信号，Pattern 生成电路根据测试指令产生测试 pattern 对 memory 进行测试，输出数据通过比较器与期望结果进行对比，将对比结果反馈给controller，controller再输出Memory的测试结果。function mode下的input 通过mux与BIST mode input 分离。

📌 MemoryBist测试方法

工具会根据一定的规则将Design 中的Memory分成若开组，每组对应一个 MBist controller。同一个 controller 下的Memory又可以分成若干step进行测试。同一step下的Memory采用并行（parallel）的方法进行测试，不同step之间则采用串行(serial)的方法进行测试。因此，同一controller下step数量太多会导致MBist测试时间增加。

📌 Memory 分组的影响因素

Memory BIST 测试中 Memory 分组主要考虑以下因素：

物理位置：会影响PR routing 及timing，因此物理位置较近的Memory可以分为一组，物理位置较远的 memory 则分在不同的 controller 测试对绕线和 timing 更友好；

电压域：不同power domain 的Memory不能分到同一组，power domain信息通过读入UP