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RSS订阅原创 PLLL测试--OUTPUT TIMING SKEW
摘要：本文详细介绍了PLL输出时序偏移（Output Timing Skew）的测量方法，包括定义、所需设备、测试步骤和三种测量方法（直接测量、参数统计和TIE测量）。重点强调了探头校准、负载匹配、信号完整性和抖动分析等关键注意事项，并推荐使用统计方法获取系统性偏移和随机分量。测试需使用高带宽示波器、匹配探头和稳定触发源，通过大量采样和数据分析确保测量精度。文章指出探头校准和负载匹配是获得皮秒级精度的基础，任何误差都可能导致纳秒级偏差。
2025-08-15 18:32:21
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原创 CP FT ATE test Pattern
摘要： 本文系统解析了半导体测试中的CP（晶圆测试）、FT（最终测试）和ATE（自动测试设备）三者的区别与联系。CP在封装前对裸片进行基础功能测试以节省成本，FT则在封装后执行全功能及可靠性测试；两者共享ATE硬件平台，但测试对象、精度及环境要求不同（如FT需多温测试）。向量生成（Pattern）作为ATE的核心功能，通过数字信号序列验证芯片逻辑，涉及ATPG算法、时序控制及测试压缩技术，直接影响测试效率与覆盖率。整体而言，CP/FT是测试流程的不同阶段，ATE是执行载体，而Pattern是功能验证的关键工
2025-08-15 18:17:26
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原创 ADC和DAC术语--疑难汇总
本文介绍了ADC/DAC转换中的关键术语：孔径延迟指采样保持电路从指令到实际采样的时间差；积分非线性(INL)反映实际转换与理想值的偏差；增益误差表示转换斜率与理想值的差异；奈奎斯特频率(采样率1GHz时为500MHz)决定了无混叠的最高信号频率；偏移二进制是ADC输出的编码方式；建立时间为输出稳定到误差范围内所需时间；小信号带宽指增益下降3dB时的频率；欠采样指以低于奈奎斯特频率采样高频信号的技术。文中配有各参数的测量图示和说明。
2025-07-30 16:50:01
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原创 ADC孔径抖动(二)--孔径延迟的测量
本文介绍了三种测量ADC孔径延迟的方法。孔径延迟是指ADC从接收采样时钟到实际采样的时间差，对高速高精度系统至关重要。方法一使用精密脉冲发生器直接测量跳变点，设备要求高但原理直观；方法二采用双音信号和频谱分析，通过观测互调产物变化推算延迟，是业界常用方法；方法三利用高线性斜坡信号，将时间延迟转换为可测的电压偏移量，通过分析输出序列的直流偏移计算延迟，精度最高但对信号线性度要求严苛。三种方法均需精密设备校准系统固有延迟，并考虑时钟抖动等因素的影响。其中斜坡信号法通过数学关系将纳秒级时间差转化为微伏级电压差进行
2025-07-30 15:44:41
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原创 时钟恢复和同步＜二＞时钟恢复关键组件
摘要： 时钟恢复是数字通信中的关键技术，通过检测数据信号中的跳变边沿（如NRZ/PAM4），利用锁相环（PLL）重建发送端时钟。PLL包含鉴相器（比较相位差）、环路滤波器（平滑误差）、压控振荡器（调整时钟频率）等组件，形成闭环控制以实现时钟同步。为解决长连0/1导致的边沿缺失，采用线路编码（如8b/10b）或数字过采样技术。该技术广泛应用于USB、SATA、光纤通信等无专用时钟线的场景，确保数据在最佳时间点被可靠采样。
2025-07-07 17:21:19
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原创 网络基础（一）
OSI是一个开放性的通信系统互连参考模型，它是一个定义得非常好的协议规范。OSI模型有7层结构，每层都可以有几个子层。 OSI的7层从上到下分别是 7 应用层 6 表示层 5 会话层 4 传输层 3 网络层 2 数据链路层 1 物理层 ；其中高层（即7、6、5、4层）定义了应用程序的功能，下面3层（即3、2、1层）主要面向通过网络的端到端，点到点的数据流。...
2023-06-06 11:38:11
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原创 WiFi（）射频指标
RF–目 录Table of Contents1、回波损耗、VSWR、反射系数 22、插入损耗 23、端口隔离度 24、发射、接收通道带外抑制 35、互调 36、长时间满功率试验 47、功率容量 58、调谐频偏 59、0.5dB带宽 610、功率反灌 611、功率全反射 612、群时延波动、相位线性度 613、噪声系数、信噪比 814、灵敏度 915、1dB压缩点 1016、接收通道动态范围； 1117、增益和带内波动 1118、工作频带； 1219、饱和发射功率；
2023-05-21 20:42:16
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空空如也
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