51单片机教程实例137-非门数字芯片测试

/*----------------------------------------------- 名称：非门数字芯片测试 论坛：www.doflye.net 编写：shifang 日期：2009.5 修改：无 内容：通过电闪烁P1口状态，观测非门工作状态 主要测试非门功能和检验芯片是否正常工作 ------------------------------------------------*/ #include<reg52.h> //包含头文件，一般情况不需要改动，头文件包含特殊功能寄存器的定义 /*------------------------------------------------ uS延时函数，含有输入参数 unsigned char t，无返回值 unsigned char 是定义无符号字符变量，其值的范围是 0~255 这里使用晶振12M，精确延时请使用汇编,大致延时 长度如下 T=tx2+5 uS ------------------------------------------------*/ void DelayUs2x(unsigned char t) { while(--t); } /*------------------------------------------------ mS延时函数，含有输入参数 unsigned char t，无返回值 unsigned char 是定义无符号字符变量，其值的范围是 0~255 这里使用晶振12M，精确延时请使用汇编 ------------------------------------------------*/ void DelayMs(unsigned char t) { while(t--) { //大致延时1mS DelayUs2x(245); DelayUs2x(245); } } /*------------------------------------------------ 主函数 ------------------------------------------------*/ void main (void) { P1=0x00; //初始化值 while (1) //主循环 { DelayMs(200); //主循环中添加其他需要一直工作的程序 DelayMs(200); //延时后进行端口取反操作，用led看到的效果是闪烁 P1=~P1; } }