通信与网络中的可加快LTE/WiMAX设备开发的数字无线测试方案

DigRF V4是移动基带和射频芯片之间的一种高速数字串行总线，也是LTE和WiMAX的关键技术。随着基带芯片和射频芯片之间的通信链路从模拟向高速串行数字技术演变，DigRF标准对移动无线系统的开发、集成和验证提出了哪些新的挑战呢？为加快LTE和WiMAX设备的开发，应该选择什么样的测试解决方案呢？本文针对这些问题给出答案。 　　由移动行业处理器接口(MIPI)联盟开发而成DigRF V4，是移动基带和射频芯片之间的一种高速数字串行总线，也是LTE和WiMAX的关键技术。随着基带芯片和射频芯片之间的通信链路从模拟向高速串行数字技术演变，DigRF标准对移动无线系统的开发、集成和验证提出了一些 在通信与网络领域，尤其是针对LTE（长期演进）和WiMAX设备的开发，数字无线测试方案扮演着至关重要的角色。这些技术的进步推动了基带芯片和射频芯片间通信链路从传统的模拟方式向高速串行数字技术的转变。其中，DigRF V4作为由MIPI（移动行业处理器接口）联盟开发的一种高速数字串行总线，成为LTE和WiMAX通信系统的核心。 随着通信链路的数字化，开发者面临新的挑战。由于组件开发的异步性，射频芯片和基带芯片可能需要独立测试，这要求测试工具能够模拟真实的通信状态。数字I/Q数据和控制信息通过DigRF接口进行封装和传输，这需要全新的测试方法，以适应数字串行接口的特性，而不再是传统的模拟I/Q数据调制测量。 为了应对这些挑战，工程师需要能与传统RF工具协同工作的 DigRF 数字串行信号源和分析工具。在射频芯片验证阶段，需要能够模拟基带芯片行为的测试设备；而在基带芯片验证中，则需要能够替代传统信号源和频谱分析仪的工具。此外，在手机集成阶段，解决跨域集成问题，特别是数字域和射频域间的兼容性问题，是另一大难题。 安捷伦（Agilent）提供的测试解决方案旨在解决这些问题，提供从数字域到射频域、从物理层到协议层的全面测试能力。其RDX N5344A和N5345A DigRF测试解决方案支持协议调试，帮助射频、基带及集成团队进行交叉域测试，从而深入了解从单个比特到IQ调制射频信号的性能。利用E5345A和E5346A有源探测解决方案，可以在保持高灵敏度的同时，对系统进行千兆位速度的深度分析，且对系统影响极小。 Agilent N5345A中间总线探头和B5346A飞线探测解决方案则提供了灵活的探测选项，适配不同空间需求的设计。测试软件环境包含了协议生成和分析功能，与Signal Studio软件和89600矢量信号分析软件兼容，简化了射频工程师的测试流程，提高了测试效率。 面对LTE和WiMAX设备开发中的挑战，采用如安捷伦等公司提供的先进数字无线测试方案，不仅能够加速设备的开发进程，还能确保系统在各个层面的性能表现和互操作性，推动通信技术的持续发展。