计算机组成原理_双口RAM和多模块存储器

本文探讨了双口RAM和多模块存储器的特性。双口RAM允许两个独立的读写端口,但在同一地址的写操作会引发冲突。高位交叉编址的多模块存储器在连续读写时可能因恢复时间导致性能下降,而低位交叉编址则能有效利用恢复时间提高存取效率。总结指出,低位交叉编址能优化多存储体的性能。

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双口RAM和多模块存储器

1. 双口RAM

双口RAM,即RAM存储器有两个可供CPU读写的端口
在这里插入图片描述
在这样的结构体下,CPU在读写RAM时会出现以下四种情况

  1. 两个端口对不同地址单元进行读写操作,则二者互不影响
  2. 两个端口对同一地址单元进行读操作,则二者互不影响
  3. 两个端口对同一地址单元进行写操作,则会发生冲突
  4. 两个端口对同一地址分别进行写操作和读操作,则会发生冲突

2. 多模块存储器

2.1 高位交叉编址

高位交叉编址:高位部分地址表示的是体号(第几个存储体),如下图
在这里插入图片描述
若连续读写存储器内的数据,即地址+1,甘特图如下:
在这里插入图片描述

2.1 低位交叉编址

低位交叉编址:低位部分地址表示的是体号(第几个存储体),如下图
在这里插入图片描述
若连续读写存储器内的数据,即地址+1,甘特图如下:
在这里插入图片描述

总结

在高位交叉编址的情况下,我们不难发现在整个读写时间里,大部分时间都在对【同一个存储体】进行读写,
由于每个存储体都存在恢复时间且恢复时间比较长,那么就相当于大部分时间在等待存储体的恢复时间

而在低位交叉编址的情况下,此时是跨存储体依次读写的,那么我们可以无需等待恢复时间而直接读写下一个存储体
换言之也就相当于将存储体的恢复时间利用起来了,大大优化了多存储体存储器的存取性能。

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